• 广东会贵宾厅

    产品中心

    PRODUCT CENTER

    R&S®ZNA 矢量网络分析仪


    ZNA 矢量网络分析仪是 VNA 产品组合中的系列:兼具射频性能、丰.富的软件功能硬件概念,帮您完成困难的测量任务。型号:ZNA26、 ZNA43 。
    +
    • pic_001.ZNA 矢量网络分析仪.jpg
    • 产品描述
    • 应用
    • 技术参考
      • 商品名称: R&S®ZNA 矢量网络分析仪
      • 商品编号: 994275066071834624
      • 品牌: R&S罗德与施瓦茨

      ZNA 矢量网络分析仪是 VNA 产品组合中的系列:兼具射频性能、丰.富的软件功能硬件概念,帮您完成困难的测量任务。型号:ZNA26、 ZNA43 。

       

      ZNA 矢量网络分析仪  产品特性:

       

      主宰测量挑战

       

      ZNA 矢量网络分析仪是 VNA 产品组合中的系列:兼具很好的射频性能、软件功能和硬件概念。仅触摸操作概念和以被测设备为中心的操作方法使 ZNA 成为一款通*用、紧凑的测量系统,适用于无源和有源设备的特性测量。

       

      ZNA 矢量网络分析仪具有的射频特性及硬件结构,可让用户比以往更容易地完成很困难的测量任务。ZNA另一个在市场上从未有过的特点是它以被测器件(DUT)为中心的操作方法,快.速方便地指引用户完成所需的测量设置。ZNA 前面板上两块独立的触摸屏把对它使用的灵.活性提到的程度,让测量任务变得既顺利又*高*效。

       

      ZNA 矢量网络分析仪  主要特点:

       

      10 MHz 至 26.5/43.5 GHz (ZNA26/43)

      提供双端口或四端口型号

      至多四个集成式信号源

      直观的仅触摸操作

       

      ZNA 矢量网络分析仪  优势和特性:

       

       

      1.  双触屏操作方式

       

      用户可以通过两个独立的触摸屏操作R&S ZNA:

             右侧是触摸式控制面板,取代了长久使用会磨损的机械按键

             左侧的12.1 英寸触摸显示屏显示测量结果的迹线、图形,以及仪表的功能图标

       

       

      2.  质量*好的硬件部件

       

      四个内置激励源

      直接连接中频测试信号

      同步和触发功能

      第二个内置本振信号源

      四个内置脉冲源和四个内置脉冲调制器

      测量脉冲参数的配置方式

       

      3.  射频性能指标

       

      1)  宽动态和功率扫描范围

       

      ZNA 的动态范围为表征高抑制滤波器的特性留出了充足的裕量;其高输出功率和宽功率扫描范围的特性可以在一次扫描测试中同时测量出放大器在大信号和小信号工作状态下的特性:

       

             动态范围:145 dB(典型值)大于 129 dB(无需特定选项的指标保证值)

             可达到的动态范围:170 dB(典型值)

             电子控制功率扫描范围高达 100 dB(典型值),连续无间断扫描范围高达 40 dB(典型值)

       

       

      2)  稳*定*精*确的测量结果

       

      ZNA 的测试装置和测量接收机具有抗温度变化稳定性和长期稳定性,其幅度和相位随温度变化产生的漂移小,分别只有不到 0.01 dB/K 和不到 0.1°/K(典型值)。 经过用户校准后的R&S?ZNA 可在数天的测量工作中无需重新校准:

       

             迹线噪声:0.001 dB(RMS)

             温度稳定性:0.01 dB/K 和 0.1°/K

             接收机0.1 dB 压缩点:15 dBm(测量端口的输入功率),安全准确地测量大功率信号

             功率扫描范围:> 100 dB(激励源信号通道配置衰减范围高达 70 dB 的电控衰减器)

       

      4.  针对每种测试场景的校准方法

       

      ZNA 支持典型的直通、开路、短路、匹配(TOSM) 校准方法,该方法能保证 S 参数的测量结果精*确,适用于使用同轴连接器的测试环。ZNA 还支持其在其它特定环境中测试 DUT 的校准方法(例如需要把 DUT 放置在测试夹具中或 DUT 是半导体芯片上的器件的情况),以及 DUT 的输入和输出端使用不同.类型连接器的情况。